Naar de inhoud

Spitswerf, Terneuzen

Aan de Spitswerf liggen 21 woningen, met huisnummers van 1 tot 21. Overwegend tussenwoningen (81%), mediaan 126, gebouwd rond 2021. De postcode is 4533 JM.

Wat woningen hier ongeveer waard zijn

€ 214.000€ 487.000 voor een woning van 126

126 m² is de mediane oppervlakte aan de Spitswerf. Gerekend met € 2.783 per m². Dat is het prijspeil van Terneuzen 477 verkopen in de afgelopen twaalf maanden — bijgesteld naar wat Othene binnen die plaats waard is. Dit is een oriëntatie voor de straat als geheel en geen taxatie: onderhoud, indeling en tuin zitten er niet in, en het bedrag rekent met de mediane woning en niet met het energielabel van één huisnummer. Per huisnummer staat de onderbouwing op de adrespagina hieronder.

Energielabels aan deze straat. Van 21 van de 21 woningen (100%) is een energielabel geregistreerd bij RVO; label A++++ komt daarvan het vaakst voor (21×). Woningen zonder vermelding hebben geen geregistreerd label — bij verkoop of verhuur is dat wel verplicht.

Uitleg bij deze cijfers

Woningen aan deze straat

AdresTypeOppervlakteBouwjaarLabel
Spitswerf 1Hoekwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 2Hoekwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 3Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 4Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 5Tussenwoning132 m²2021A++++
Spitswerf 6Tussenwoning132 m²2021A++++
Spitswerf 7Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 8Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 9Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 10Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 11Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 12Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 13Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 14Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 15Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 16Tussenwoning132 m²2021A++++
Spitswerf 17Tussenwoning132 m²2021A++++
Spitswerf 18Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 19Tussenwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 20Hoekwoning126 m²2021A++++
Spitswerf 21Hoekwoning126 m²2021A++++

Andere straten in Othene

Bron: BAG (Kadaster) voor adres, oppervlakte en bouwjaar. Het woningtype leiden wij zelf af; zie de methodiek.